最直接的镀膜控制方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，这种仪器可以直接驱动蒸发源，通过PID控制循环（huán）驱动挡板（bǎn），保持蒸发速率。只要将仪器与系统控制软件相连接，它就可以控（kòng）制整个的镀膜（mó）过程（chéng）。但是(QCM)的精确度是有限的（de），部分原因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。
    此外虽然QCM在较（jiào）低（dī）温度下非常稳定，但温度较高时（shí），它会变得对温度非常敏感。在长时间（jiān）的加热过程中，很（hěn）难阻止传感器（qì）跌入这个敏感区域（yù），从而对膜层造成重大误（wù）差。
    光学（xué）监（jiān）控是高精密（mì）镀膜的的首（shǒu）选监控方式，这是因为它可以更精确地控（kòng）制膜层厚度(如果运用得当)。精确度的改进源于很多因素,但最根本的原因是对光学厚度的监控。
    OPTIMAL SWA-I-05单波长光学监控系统，是采用间接测控，结合（hé）汪博士（shì）开（kāi）发的先进光学监控软件，有效提高光学反应对（duì）膜厚度变化（huà）灵敏度的理（lǐ）论和方法来减少终极误差，提供了反馈或传输的选择（zé）模式和大范（fàn）围的（de）监测波长。特（tè）别适合于各种膜厚的镀膜（mó）监控包括非规整膜（mó）监控。

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