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真空鍍膜(mó)塗層膜厚測量方式?

作者: 來源: 日期:2021-07-14 12:19:06 人(rén)氣:2157
       我們日常生活中,很(hěn)多生活(huó)物品都(dōu)經(jīng)過鍍膜機鍍上了一層膜層,讓(ràng)產品不僅變得更美觀,也更實用。但是很多人會有一個(gè)疑問(wèn),那既然是鍍(dù)了一層膜層,薄膜肯定(dìng)是有厚度大小的,那麽薄膜厚度具(jù)體多厚呢,以及怎麽去(qù)測量?

       薄膜必須沉積在基底之上, 所以離(lí)開了基(jī)片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄膜的質最有極共重要的(de)影響。同時在薄膜的製(zhì)作中還必須知道薄膜的(de)厚度,脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也是亳無意義的(de)。 所以, 膜厚的測量和(hé)基片的清洗可以說是(shì)和薄膜製作相關的重要技術(shù)。一般所謂的厚度是指兩個完(wán)全平整的平行(háng)平麵之間的距離,這(zhè)個概念是(shì)一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基片表麵和薄膜表麵之(zhī)間的距(jù)離。在(zài)薄膜形貌的三(sān)維度量(liàng)中,相對於薄膜的厚度來講,其他兩維的度量可(kě)以說是無窮大。由於(yú)實際上存在的表麵是不平整和不(bú)連續的,而且(qiě)薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質(zhì)、晶格缺陷和表麵吸附分子等等,所有要嚴(yán)格地定(dìng)義和精確地測量薄膜的厚度實際上(shàng)是很困難的。

        膜厚的定義位當根據(jù)測址的方法和測址的目的決定。 因此,同一(yī)個薄膜,使用不同的測量方(fāng)法會得到(dào)不同的結果(guǒ), 即不(bú)同的厚(hòu)度。

        在薄膜油測量中的表(biǎo)麵並(bìng)不是一個幾何的概念,而是一(yī)個 物埋(mái)概念,是指表麵分子(原子)的集合。 平均表麵是(shì)指表麵原(yuán)子所有的點到這個麵(miàn)的距離代數和等於零, 平均表麵是一個兒何概念。

        我們(men)通常將基(jī)片的一側的表麵分子的集合的平均表麵稱為基片表麵;薄膜上不(bú)和基片接觸的那(nà)一側的表麵的平(píng)均表麵稱為薄膜的形狀表麵(miàn),將所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和大塊狀固體材料完全一樣(yàng)且均勻的分布在基片表麵上,這時平均表麵稱為薄(báo)膜(mó)質量等價表麵;根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度(dù)和寬度與所測量的薄膜一樣的(de)大(dà)塊固體材料的(de)薄膜,這(zhè)時的平均(jun1)表麵稱為薄(báo)膜物性(xìng)等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀形(xíng)式的膜厚, 通常以(yǐ)µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜中包含物質為多少,通常 以 µg/cm#8217;為單位, 物性膜厚在實際使用上較有用, 而且比(bǐ)較容易(yì)測量。

         由於實際表麵並不平整,同時薄膜製作過(guò)程中又不可避免(miǎn)地要有各種缺陷、 雜質和吸附分子等存在,所(suǒ)以不管用哪 一種方法來定義(yì)和測量膜厚,都是一個(gè)平均(jun1)值,而且足包(bāo)括了雜質、缺陷以及吸附分(fèn)子(zǐ)在內的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在(zài)真空腔體下(xià)進行鍍膜的,對於(yú)測量膜厚度來說,是需要這方麵專業的測量儀才能測出厚度(dù)大小。
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